КИТАЙ оборудование для испытаний без разрушения

• 

  Цветовая графика ЖК-дисплей 22 параметра ТФТ сенсорный экран поверхность грубость тестер

  Ось Z (вертикальная) Дальность измерения:±80μm/±160 μm ((усовершенствованная модель)

  Ось X (поперечный) диапазон измерений:20 мм

  Графическая кривая площади подшипника, Профиль шероховатости, Первичный профиль:Кривая площади подшипника, профиль шероховатости, профиль первичного типа

  Контакт
• 

  Портативный профилометр 14 параметров с OLED-дисплеем 128 x 64 точек и спектрограммой

  Название продукта:Тестер шероховатости поверхности

  Модель:SRT-6600

  Экран дисплея:128 x 64 OLED

  Контакт
• 

  Портативный измеритель шероховатости поверхности с сенсорным экраном

  Сертификация:CE

  Измерение единицы:Хм/уин

  Разрешение:0.01um

  Контакт
• 

  Цифровой толщиномер покрытий TG1956 0~1300 мкм, автоматическое распознавание зондов F&NF

  Диапазон:0~1300um 0~51.2mil

  Точность:±2,5%+1мм) ±2,5%+0,04мм)

  Разрешение:00,01 миллиметра

  Контакт
• 

  TG1956 Высокоточный тестер толщины покрытия с 5-точечной калибровочной функцией

  Диапазон:0~1300um 0~51.2mil

  Точность:±2,5%+1мм) ±2,5%+0,04мм)

  Разрешение:00,01 миллиметра

  Контакт
• 

  136° Викерс Диамантный индентер Ультразвуковой тестер твердости Моторизованный зонд

  Материал:АБС

  экран:ЖК-дисплей

  Шкала:HV、HB、HRC, HLD

  Контакт
• 

  Полевой металлографический микроскоп HM-20D с магнитной основой для инспекции в нефтехимической, железнодорожной и судостроительной отраслях

  Увеличение:100X, 125X, 400X, 500X

  Объектив:Стандартно 10X, 40X, по одному (опционально 20X, 80X)

  Окуляр:10X, 12,5X по 1 шт.

  Контакт
• 

  Портативный металлографический микроскоп HSC-500 с вертикальной подсветкой для крупных заготовок

  Окуляр:WF10X/ф6

  Цель:10X, 20X, 50X

  Полное увеличение:100X-500X

  Контакт
• 

  HM-41X Профессиональный тринукулярный инвертированный металлургический микроскоп с системой анализа изображений

  Источник света:Отражающая система освещения Cora (12V50W галогенная лампа) с регулируемой яркостью

  диапазон регулировки интерпупиллярного расстояния:54-75 мм

  точность тонкой регулировки:00,002 мм

  Контакт
• 

  Инвертированный металлографический микроскоп HM-41X с полуахроматическим объективом для анализа материалов

  Источник света:Отражающая система освещения Cora (12V50W галогенная лампа) с регулируемой яркостью

  диапазон регулировки интерпупиллярного расстояния:54-75 мм

  точность тонкой регулировки:00,002 мм

  Контакт
• 

  Стереомикроскоп высокого разрешения HSM-645S с цифровой камерой для лабораторных измерений

  Рабочее расстояние:115 мм

  Меняющиеся времена, чем:6.3:1.

  Цель по изменению времени:0.8 ~ 5X ((общая усиленность 8 ~ 50X) (необязательно до 4 ~ 100X)

  Контакт
• 

  Односторонний сварочный калибр HI-LO с метрической и дюймовой двойной шкалой для испытания трубопроводов

  Диапазон:Корневой зазор: 0–8 мм. Смещение (HI-LO): 0–6 мм.

  Материал:Нержавеющая сталь

  Шкала:Метрическая и дюймовая двойная шкала

  Контакт